Wissenschaftstransfer
Labor für Metallkunde und Werkstoffanalytik
Elektronenmikroskopie und Lichtmikroskopie
Ob Lichtmikroskopie oder Rasterelektronenmikroskopie - gehen Sie mit uns auf Entdeckungreise zu mikroskopischen Details ihrer Proben oder Schadensf?lle.
Das Labor für Metallkunde und Werkstoffanalytik verfügt über verschiedene Auf- und Durchlichtmikroskope, welche mit entsprechender Bildaufnahme und Auswertungssoftware ausgestattet sind.
Lichtmikroskopietechnik
- verschiedene Auf- und Durchlichtmikroskope
- ein inverses Mikroskop
- Stereomikroskope
- Videokamera mit Mikroskopadapter
- digitale Kamera mit Mikroskopadapter
- Bildanalyseeinrichtungen
Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen ist vielf?ltig. Er reicht von der Material- und Schadensanalyse über die Elektro- und Halbleiterindustrie bis hin zur Biologie, Chemie und Medizin. Mittels eines Elektronenstrahls wird eine Materialoberfl?che zeilenf?rmig abgerastert. Dabei kommt es zur Wechselwirkung im Material die u.a. zur Bildung von Sekund?r- und Rückstreuelektronen sowie der charakteristischen R?ntgenstrahlung führt.
Diese k?nnen detektiert und entsprechend, entweder für die Abbildung oder Analyse genutzt werden. Die Entwicklung von druckvariablen (VP-variable pressure) Ger?ten hat die Einsatzm?glichkeit des REM entscheidend erweitert. Es ist nun m?glich auch gasende, verschmutzte, feuchte sowie nichtleitende Proben ohne vorherige Aufbereitung artefakt- und zerst?rungsfrei zu untersuchen.
Die wichtigsten Vorteile der Rasterelektronenmikroskopie sind:
- hohes Aufl?sungsverm?gen
- hohe Tiefensch?rfe
- relativ geringer pr?parativer Aufwand
- leichte Interpretation der erzeugten Bilder infolge des dreidimensionalen Eindrucks
- Nutzung verschiedener Kontrastmechanismen für die Bilderzeugung sowie
- relativ einfach Adaption und Ansteuerung von zus?tzlichen Me?ger?ten für die Mikrobereichsanalyse
EDX-Analyseeinheit (INCA-ENERGY)
Bei der Bestrahlung der Probe mit einem Elektronenstrahl im REM wird charakteristische R?ntgenstrahlung freigesetzt. Da die Energie der R?ntgenquanten von der Ordnungszahl der Atome abh?ngt (Mosley'sches Gesetz) kann anhand der R?ngenspektren auf die chemische Zusammensetzung der Probe geschlossen werden. Das Ger?t Oxford Inca Energy 250 erm?glicht neben Punktanalysen auch Linescans oder Mappings zur qualitativen bzw. quantitativen Analyse vorliegender Elemente (d.h Darstellung von Verteilungen der vorliegenden Elemente in einem ausgew?hlten Bereich der Probe).
Technische Daten des REM
- Zeiss- EVO MA10
- W-Filament; 0,2-30 kV
- m?gliche Vergr??erung: 10 bis 50.000- fach
- Druckbereich VP (variable pressure) 10 bis 400 Pa
- SE-Detektor (Topographiekontrast)
- BSE-Detektor (Materialkontrast)
Für metallographische Untersuchungen (z.B. am Licht- bzw. Rasterelektronenmikroskop) oder auch für die Vorbereitung zur Analytik von Schadensf?llen k?nnen folgende Ger?te bzw. Techniken genutzt werden:
Trennen, Schleifen, Polieren, ?tzen, Kontrastieren:
- Bestimmung von Polier- und ?tzparameter über Strom-Dichte-Potentialkurven
- elektrolytisches, chemisches und thermisches ?tzen
- Interferenzschichten (u.a. mit ZnS)
- Besputtern (Au, Pt) bzw. Bedampfen (C, ZnS u.a.)
Ger?te:
- Nasstrennschleifmaschine [Struers]
- Polierger?t Tegra [Struers]
- Schleif- und Poliermaschine ?Polo 250/3“ [Buehler]
- Pr?zisions-Diamant-Trennmaschine [Buehler]
- Warm- und Kalteinbettung
- Poliermaschinen [Struers]
- Transportables Schleif & Polierger?t (Ambulante Metallografie)
- Elektrolytische Polier- & ?tzeinrichtung [Struers]
- Degistorien für ?tzungen
- mehrere Exikkatorenkammern
- Sputtercoater
